CS19010系(xi)列(lie)局(ju)部放(fang)(fang)(fang)電(dian)測(ce)(ce)(ce)試儀(yi)是(shi)一款適用(yong)于高壓(ya)隔離集(ji)成(cheng)電(dian)路（如光耦、磁耦、隔離放(fang)(fang)(fang)大(da)器(qi)(qi)、隔離式(shi)數(shu)字通信芯片）、半導體高壓(ya)開(kai)關（如IGBT、MOSFET），及高壓(ya)絕緣組件（如隔離基板）、低容(rong)值(zhi)高壓(ya)電(dian)容(rong)器(qi)(qi)等器(qi)(qi)件局(ju)部放(fang)(fang)(fang)電(dian)和耐壓(ya)測(ce)(ce)(ce)試的綜合測(ce)(ce)(ce)量設備，可實現0.1kV~10kV范圍內耐壓(ya)測(ce)(ce)(ce)試和局(ju)部放(fang)(fang)(fang)電(dian)測(ce)(ce)(ce)試
