簡(jian)要(yao)描述:CS19010系列(lie)局(ju)部放電(dian)測(ce)試儀是一款適用于高壓(ya)(ya)(ya)隔離集成電(dian)路(lu)(如(ru)(ru)光耦、磁耦、隔離放大器、隔離式數字通信(xin)芯片)、半導體高壓(ya)(ya)(ya)開關(guan)(如(ru)(ru)IGBT、MOSFET),及高壓(ya)(ya)(ya)絕(jue)緣組(zu)件(如(ru)(ru)隔離基板)、低(di)容值高壓(ya)(ya)(ya)電(dian)容器等器件局(ju)部放電(dian)和(he)耐壓(ya)(ya)(ya)測(ce)試的綜合(he)測(ce)量設備,可實(shi)現(xian)0.1kV~10kV范圍內耐壓(ya)(ya)(ya)測(ce)試和(he)局(ju)部放電(dian)測(ce)試
更新時間(jian):2023-11-24
產品型號:
所(suo)屬分類:局部放電測試儀
訪(fang)問量(liang):201
CS19010系列局部放電測試儀是一款適用于高壓隔離集成電路(如光耦、磁耦、隔離放大器、隔離式數字通信芯片)、半導體高壓開關(如IGBT、MOSFET),及高壓絕緣組件(如隔離基板)、低容值高壓電容器等器件局部放電和耐壓測試的綜合測量設備,可實現0.1kV~10kV范圍內耐壓測試和局部放電測試。
CS19010系列局部放電測試儀采用試品串聯耦合測量模式,測試方法符合通用局放測量標準GB/T 7354-2018 (IEC60270:2000),同時也符合特定器件的局放測量標準,如光隔離器安全標準(IEC60747-5-5)、數字隔離器安全標準(IEC60747-17)、低電壓設備安全標準(IEC60664-1)、半導體開關組件標準(IEC 60747-15)等;具有自定義高壓輸出波形、多種測量條件合格判斷功能,用戶可根據需求柔性組合,實現0.01uA~1mA泄漏電流測量和1pC~200pC局部放電測量,可滿足大多數集成隔離器件和高絕緣材料的產品品質測試需求。
CS19010系列局部放電測試儀的主要應用領域:(1)工業生產,依據相關標準在高壓器件(組件)生產過程中進行局部放電常規測試或現場診斷測試;(2)科學研究,對高壓絕緣材料進行局部放電特性研究或絕緣劣化過程研究。