華儀(yi)EEC 7006介電(dian)測(ce)(ce)試矩陣掃(sao)描(miao)器(qi) 7006系(xi)列(lie)多信道掃(sao)描(miao)儀(yi)可(ke)(ke)搭配ESA與SE系(xi)列(lie)組成多點(dian)測(ce)(ce)試功能(neng),可(ke)(ke)彈性(xing)組合成不同測(ce)(ce)試模塊,亦可(ke)(ke)增(zeng)加待測(ce)(ce)物(wu)(DUT)數量(liang),解決復雜配線操作困難,提(ti)升測(ce)(ce)試效率增(zeng)加產能(neng)。